1、試驗?zāi)康?strong>低溫試驗用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗和元器件的篩選試驗。
    2、試驗條件按照國標(biāo)GB 2423.1—2008規(guī)定如下：
    （1）非散熱試驗樣品低溫試驗Ab：溫度漸變。
    （2）散熱試驗樣品低溫試驗Ad：溫度漸變。試驗的嚴(yán)酷程度由溫度和持續(xù)時間確定。溫度：-65℃；-55℃；-40℃；-25℃；-10℃；-5℃；+5℃。試驗溫度的允許偏差均為±3℃。持續(xù)時間：2h；16h；72h；96h。
    3、試驗程序
    試驗Ab：非散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗，用以確定非散熱的電子電工產(chǎn)品（包括元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品）低溫下存儲和使用的適應(yīng)性。將處于室溫的試驗樣品，按正常位置放入 高低溫試驗箱內(nèi)，開動冷源，使試驗箱溫度從室溫降低到規(guī)定試驗溫度并使試驗樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。箱內(nèi)溫度變化速率為不大于 1℃/min（不超過5min時間的平均值）。
    試驗Ad：散熱試驗樣品溫度漸變的低溫試驗，確定散熱電子電工產(chǎn)品（包括元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品）低溫條件下使用的適應(yīng)性。
    4、有關(guān)技術(shù)和設(shè)備要求
    （1）有關(guān)技術(shù)。若試驗的目的僅僅是檢查試驗樣品在低溫時能否正常工作，則試驗的時間只限于使試驗樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定即可；若作為與低溫耐久性或可靠性相聯(lián)系的有關(guān)試驗時，則其試驗所需的持續(xù)時間按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。試驗時要注意區(qū)分兩類試驗樣品：無人工冷卻的試驗樣品和有人工冷卻的試驗樣品。無人工冷卻的試驗樣品分為無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗和有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗，無強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗，是模擬自由空氣條件影響的一種試驗方法。有強(qiáng)迫空氣循環(huán)的試驗，有兩種方法。方法 A 適用于高低溫試驗箱足夠大，不用強(qiáng)迫空氣循環(huán)也可滿足試驗要求，但僅能借助空氣循環(huán)才能保持箱內(nèi)的環(huán)境溫度。方法B用于方法A不能應(yīng)用的場合，例如，用作試驗的試驗箱體積太小，當(dāng)無強(qiáng)迫空氣循環(huán)就不能符合試驗要求的場合。有人工冷卻的試驗樣品，一般可按無強(qiáng)迫空氣循環(huán)方法進(jìn)行試驗。這三項低溫試驗對于試驗樣品的工作性能試驗，必須按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對試驗樣品給予通電或電氣負(fù)載，并檢查確定能否達(dá)到規(guī)定的功能。按要求施加規(guī)定的試驗條件前，應(yīng)對樣品進(jìn)行外觀及電氣和機(jī)械性能的初始檢測，然后按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定在試驗期間或結(jié)束時加負(fù)載和進(jìn)行中間檢測，檢測時試驗樣品不應(yīng)從高低溫試驗箱中取出。按照規(guī)定要求進(jìn)行恢復(fù)，后對樣品進(jìn)行外觀及電氣和機(jī)械性能的檢測。
    （2）試驗設(shè)備要求。高低溫試驗箱應(yīng)能夠在試驗工作空間內(nèi)保持規(guī)定的溫度條件，可以采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來保持溫度均勻。為了限制輻射影響，試驗箱內(nèi)壁各部分溫度與規(guī)定試驗溫度之差不應(yīng)超過 8%（按開爾文溫度計），且試驗樣品不應(yīng)受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元器件的直接輻射。